ІМОВІРНІСНА МОДЕЛЬ ФУНКЦІОНАЛЬНОГО УРАЖЕННЯ НАПІВПРОВІДНІКОВІХ РАДІОЕЛЕМЕНТІВ ШЛЯХОМ ЗАСТОСУВАННЯ ПОСЛІДОВНОСТЕЙ КОРОТКИХ ІМПУЛЬСІВ
DOI:
https://doi.org/10.33405/2409-7470/2011/2/18/166079Ключові слова:
нормальний закон розподілення, ймовірність відмов, короткоімпульсні сигнали.Анотація
Запропонована ймовірнісна модель функціонального ураження напівпровідникових елементів внаслідок використання послідовностей потужних ультракоротких сигналів. Модель дозволяє визначити ймовірність появи пошкоджень у різних типах напівпровідникових елементів за нормального закону розподілення теплової енергії, що виділяється у процесі поглинання енергії електромагнітних коливань. Отримані кількісні оцінки для ймовірності відмов вхідних трактів приймальних пристроїв у разі використання послідовностей потужних короткоімпульсних сигналів.
Посилання
Garver R.V., Fazi C., Druns H. Dynamic diode mixer damage measurements // 1985 IEEE MTTS Int. Microwave Symp. Digest. – Р. 535–536.
Glan Chance V. Trandsin mixer damage // IEEE MTT-S Int. Microwave Symp. Digest., 1989. – Р. 475–477.
Christon A. GaAs mixer burnout mechanisms at 36-94 GHz // Annual Proc. Reliab. Physics, 1980. – Р.140–144.
Васильев, К. Б. Статистика отказов цифровых ИМС, вызванных импульсным радиоизлучением [Текст] / К. Б. Васильев, А. В. Ключник, А. В. Солодов // 9-я Междунар. Крымская конф. “СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии”. – Севастополь, 1999. – С. 329 – 330.
Ключник, А. В. Статистика повреждения СВЧ диодов импульсным радиоизлучением [Текст] / А. В. Ключник, А. В. Солодов, Ю. А. Пирогов // Радиоэлектроника. – 2010. – № 12. – С. 22 – 29.
Ключник, А. В. Моделирование вероятности повреждения СВЧ диодов импульсным радиоизлучением [Текст] / А. В. Ключник, А. В. Солодов, Ю. А. Пирогов // IV Всероссийская конференция “Радиолокация и радиосвязь”. – М. : ИРЭ РАН, 2010. – С. 255 – 261.
Влияние мощных импульсных микроволновых помех на полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы / В. В. Антипин, В. А. Годовицын, Д. В. Громов и др. // Зарубежная радиоэлектроника. – 1995. –№ 1. – С. 37 – 52.
